普通100mil测试针一次测试能顶5安培到10安培电流，但时间别太长。比如测芯片引脚，每次别超过30秒，歇够1分钟再测。用的时间长了针尖会发烫，针座也会慢慢磨损，寿命能撑到500次到1000次测试。

为啥是这个数啊？因为测试针的电流承受和寿命跟三样东西有关。首先材料决定上限，铜芯的熔点1085度，但实际电流到5A就会让针尖温度飙到200度以上。根据I²R公式，电阻每平方毫米0.017欧姆，10A流过1平方毫米铜线，功率就是170瓦特，针尖温度直接翻倍。其次用得勤不勤，每秒测10次的话，温度累积比单次测半小时还快。数据表显示，每天测8小时，寿命从1000次直接掉到300次。环境温度也关键，25度环境下能跑1000次，到了40度只能撑500次。所以得控制测试间隔，让温度降下来，针尖才不会熔断或者氧化变钝。