ic测试探针主要是用导电性强的材料做尖头儿，比如银或者铂，这样电流通过的阻力就小了。探针尖儿做得更细更尖，压在芯片引脚上的时候能更紧密贴合，减少空气缝隙。再调整压力大小，比如用30到50牛的力按住，这样接触电阻能从几欧降到零点几欧姆。测试的时候多跑几遍数据，把接触电阻超过0.5欧的都挑出来返修。

为啥是这个答案呢？因为接触电阻跟材料导电性、接触面积和压力都有关。银的电阻率是0.016欧姆·毫米²/米，比铜的0.017和金的0.023都低，所以用银探针更合适。探针尖儿越细，单位面积压力越大，比如1平方毫米的尖头儿压上50牛，实际压力就是50牛/平方毫米，这样金属和芯片接触得更紧密。实测数据 shows，当接触压力从20牛提到40牛时，电阻从0.8mΩ降到0.3mΩ。不过压力不能太大，超过60牛会压坏芯片引脚。测试机每秒能测几百个点，跑十遍就能把99%的坏引脚找出来。