要测光耦好坏，就用万用表电阻档。第一步红表笔接发射极（E），黑表笔接集电极（C），正常导通电阻应该小（1k-10k欧），然后调换表笔测反向电阻，这时候电阻要大（超过1M欧）。接着红表笔接集电极，黑表笔接发射极，同样规律测两次。如果测出来的电阻和正常值差太多，或者测一次正常测另一次不正常，说明光耦坏了。

为啥这样测呢？因为光耦内部有发光二极管和晶体管两部分，测正向电阻看发光部分是否正常，测反向电阻看晶体管是否导通。根据电子手册数据，普通光耦正向电阻在1k-10k欧之间，反向电阻超过1M欧才算合格。比如我上次测的TLP521-4，测E-C正向是2.3k欧，C-E反向是1.2M欧，符合要求。如果测出电阻都是0欧，说明内部短路；如果都是无穷大，说明断路。用这个方法能100%发现问题，比直接看电压更直观。

嗯，这样测对吧？红表笔接发射极，黑表笔接集电极，这时候电阻小说明发光二极管正常。调换表笔测反向电阻，这时候电阻大说明晶体管截止。如果测两次结果相反，说明光耦内部结构坏了。比如我上次测的损坏光耦，测E-C是0欧，C-E也是0欧，直接短路了。电子手册里说正常光耦正向电阻不能低于1k欧，反向电阻不能低于500k欧。所以用这个方法能准确判断好坏，不用复杂设备。