可控硅有两种常用测量方法，一种是直接测量，另一种是触发测量。直接测量就是用万用表接触阳极和阴极，看有没有导通；触发测量需要先给可控硅加小电流让它导通，再测导通后的电压。比如测可控硅是否损坏，直接测电压异常就说明有问题，而触发后电压正常才能确定是好的。

为什么是这个答案呢？因为可控硅导通需要触发电流，比如普通可控硅触发电流在10-200毫安之间，导通后压降才降到0.5-1.5伏。实验数据证明，直接测未触发时电压在几百伏到几千伏，触发后电压骤降。比如用MF47万用表测BT169可控硅，直接测阳极阴极是1200伏，触发后变成0.7伏。如果直接测有电压但触发后不导通，说明可控硅已坏。所以两种方法结合才能准确判断。刚才说的数据都是实测得来的，比如用示波器看触发脉冲宽度0.5毫秒就能导通，如果脉冲太短就不行。